発明提案書(要点整理) 作成日: 2026年9月14日 発明の名称(仮): 局所散逸系モデルを用いた電気化学インピーダンス解析装置、解析方法、およびプログラム 1. 発明の概要(サマリー) 本特許は、電気化学インピーダンス法(EIS)における周波数応答データ Z(\omega) の解析において、従来の巨視的な等価回路モデル(R, C, L, CPE)への当てはめに依存せず、 非エルミートな散逸系の動的幾何学モデル(重力物理学における準ノーマルモード解析およびホログラフィー伝導率理論) を用いて、電極界面の微視的・非線形な物理化学プロセス(極の軌跡、境界粘性、強相互作用)を直接同定・パラメータ化するデータ処理アルゴリズムおよび解析システムである。 2. 従来技術とその課題(背景技術) 従来の技術: 測定された複素インピーダンス Z(\omega) に対し、Randles回路やCPE(定位相要素)などの巨視的等価回路をあてはめる最小二乗フィッティング(CNLS)が主流。 解決すべき課題: 経験的パラメータの物理的意味の欠如: CPEの指数 n(理想応答からの偏差)が単なる経験的補正係数にとどまり、界面の物理的状態(欠陥、粗さ、構造不均一)と1対1で対応しない。 強相互作用系の破綻: 全固体電池や高濃度電解液において、イオン間の強静電相互作用(平均場近似の破綻)による非理想的緩和挙動を正確にモデル化できない。 素過程の重なり分離: 複数の緩和時間が近接している場合、等価回路では解の不定性(オーバーフィッティング)が生じる。 3. 本発明の解決手段(課題を解決するための手段) 以下の1つまたは複数の数理モジュールを組み合わせたデータ処理パイプラインを構築する。 準ノーマルモード(QNM)摂動モジュール 滑らかな電極界面の理想応答 \hat{H}_0 に対し、界面の微細構造や不均一性を摂動ポテンシャル V_{\text{pert}} と解釈。 複素周波数平面上の固有極の移動量(Shift)として Z(\omega) を解析し、CPE指数の変動を幾何学的摂動量に変換して出力する。 ホログラフィー伝導率(AdS/CFT双対)モジュール 強相互作用下(全固体・高濃度電解質)のイオン移動に対し、AdSブラックホール時空に...
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